线扫激光结构光成像
双目结构,最优基线比设计,满足高精度数据采集要求
适用于远距离、大视野、大尺寸工件的识别定位
适用于各种颜色的工件及高反光工件的识别定位
抗高亮环境光干扰,可在100000Lux光照度下稳定运行
内置补光灯,提升图像成像质量及速率稳定性,无需外部光源部署
防护等级IP65