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  • 面扫条纹光栅结构光成像

  • 双目结构搭配最优基线比，实现高精度数据采集

  • 适用于各种颜色工件及一定程度反光工件的识别定位

  • 适用于装配等对精度要求较高的定位场景

  • 适用于对工件表面孔类(圆/椭圆/螺纹/矩形等)的几何尺寸测量及位置度等形位公差的测量

  • 体积小、重量轻，适合安装在机械臂上使用

  • 选用高级别抗冲击、防振硬件，结构稳定可靠

  • 防护等级IP65

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